?X射線分析儀是一種根據(jù)物體受到X射線照射時(shí)的熒光X射線光譜來(lái)分析元素含量的裝置。

X射線分析儀用于材料的定性和定量分析，由于可以在短時(shí)間內(nèi)檢查而不破壞樣品，因此被用作分析材料成分的方法。

X射線分析儀可以測(cè)量固體和液體，作為定性分析方法相對(duì)靈敏，使其成為高度可靠的檢測(cè)設(shè)備。

X射線分析儀的應(yīng)用

X射線分析儀可以以非破壞性的方式對(duì)固體或液體樣品進(jìn)行定性和定量分析。特別用于調(diào)查合金材料和土壤中有害金屬的存在和含量。

例如，X 射線分析在研究成分未知的材料（例如巖石和隕石）的成分時(shí)非常有效。最近，出于環(huán)境和安全原因，人們一直在推動(dòng)印刷線路無(wú)鹵素，為了確保這一點(diǎn)，使用 X 射線分析儀對(duì)印刷線路進(jìn)行分析。也可用于有害化學(xué)物質(zhì)的定性和定量測(cè)定，以及RoHS指令規(guī)定物質(zhì)的測(cè)試。此外，現(xiàn)在出現(xiàn)了易于攜帶的便攜式設(shè)備，其用途正在擴(kuò)大。